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xrf分析儀曲線漂移的原因分析：1.要把漂移的原因搞清楚，是xrf分析儀（參數(shù)）原因還是環(huán)境（氣、電、溫度等）；熔融法做類標(biāo)，風(fēng)險稍大，熔融法不象直讀光譜，標(biāo)樣穩(wěn)定，且基體大多情況不一致。2.雖說對于熔融法,類型標(biāo)準(zhǔn)化沒有什么理論根據(jù),但有時確實(shí)起到很好的效果,并不是不可用,但要確認(rèn)儀器本身正常且穩(wěn)定。對于校正xrf分析儀漂移的試樣,要看強(qiáng)度值有多高,如果單點(diǎn)校正的強(qiáng)度值過低,可能會出現(xiàn)較大的問題,單點(diǎn)漂移校正的強(qiáng)度接近曲線的上端強(qiáng)度,相對誤差會小一些,用兩點(diǎn)校正儀器漂移。曲...

工業(yè)X射線衍射儀適合工業(yè)環(huán)境中的游離硅及石棉的定性/定量分析。X射線衍射術(shù)是一種應(yīng)用于材料分析的高科技無損檢測方法，可以采用這種方法進(jìn)行分析研究的材料范圍非常廣泛，包括流體、金屬、礦物、聚合物、催化劑、塑料、藥物、薄膜鍍層、陶瓷、太陽能電池和半導(dǎo)體等。X射線衍射方法的應(yīng)用遍及工業(yè)和科研院所，現(xiàn)已成為一種*的材料研究表征和質(zhì)量控制手段。具體應(yīng)用范圍包括定性和定量相分析、晶體分析、結(jié)構(gòu)解析、織構(gòu)和殘余應(yīng)力分析、受控樣品環(huán)境、微區(qū)衍射、納米材料、實(shí)驗(yàn)和過程的自動控制以及高處理量多形...

過去對環(huán)境的評估只能依賴于在實(shí)驗(yàn)室對從現(xiàn)場采集并運(yùn)送到實(shí)驗(yàn)室的樣件所做的分析，現(xiàn)如今xrf分析儀的出現(xiàn)，能夠在現(xiàn)場直接對環(huán)境進(jìn)行評估，經(jīng)濟(jì)及時有效。xrf分析儀對于環(huán)境檢測有非比尋常的意義，主要包括以下幾個方面：1、社區(qū)與居住區(qū)域的發(fā)展xrf分析儀可以在瞬間辨別出土壤中重金屬極低的百萬分率含量，在整修學(xué)校、社區(qū)中心、住宅、游樂場及運(yùn)動場或者是垃圾填埋場、工業(yè)場址、果園、飼養(yǎng)場等地方，它都是一件*的工具。2、城市周邊地區(qū)的農(nóng)業(yè)及農(nóng)藝學(xué)隨著世界人口的增長，食物來源的安全性也變得越...

x射線衍射操作實(shí)驗(yàn)樣品制備要求如下：1.金屬樣品如塊狀、板狀、圓拄狀要求磨成一個平面，面積不小于15x20毫米，如果面積太小可以用幾塊粘貼一起。2.對于片狀、圓拄狀樣品會存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向，衍射強(qiáng)度異常。因此要求測試時合理選擇相應(yīng)的方向平面。3.對于測量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變），測量殘余奧氏體，要求樣品不能簡單粗磨，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光，消除表面應(yīng)變層。4.粉末樣品要求磨成－320目的粒度，約40微米。粒度粗大衍射強(qiáng)度底，峰形不好，分辨率低。要了...

xrf分析儀可分析土壤中的重金屬元素，以下是具體介紹：土壤重金屬污染，是指由于人類活動將重金屬帶入到土壤中，致使土壤中重金屬元素的含量超過背景值，并可能造成現(xiàn)存的或潛在的土壤質(zhì)量退化，生態(tài)與環(huán)境惡化的現(xiàn)象。根據(jù)國土資源部的調(diào)查數(shù)據(jù)，全國耕種土地面積的10%以上已受重金屬污染，約有1.5億畝，污水灌溉污染耕地3250萬畝，固體廢棄物堆存占地和毀田200萬畝，其中多數(shù)集中在經(jīng)濟(jì)較發(fā)達(dá)地區(qū)。經(jīng)我國30萬公頃基本農(nóng)田保護(hù)區(qū)土壤有害重金屬抽樣檢測，有3.6萬公頃土壤重金屬超標(biāo)，超標(biāo)率達(dá)...