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納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)利用光散射和布朗運(yùn)動(dòng)的特性獲得液體懸浮液中的樣本粒度分布。工作原理：激光光束穿過(guò)樣本室并沿光束散射光的路徑穿過(guò)懸浮液中的顆粒，從而能夠通過(guò)裝有攝像頭20倍長(zhǎng)工作距離放大顯微鏡，輕松實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化。攝像頭捕捉布朗運(yùn)動(dòng)下移動(dòng)顆粒的視頻文件。軟件單獨(dú)追蹤多個(gè)顆粒并利用愛(ài)因斯坦方程式計(jì)算顆粒的流體力學(xué)直徑。NanoSight系列儀器提供高分辨率粒徑、濃度和聚合測(cè)量，同時(shí)熒光模式還可針對(duì)標(biāo)識(shí)顆粒提供特定的結(jié)果。該系列產(chǎn)品可利用經(jīng)可視化驗(yàn)證進(jìn)行*確認(rèn)的所有...

X射線衍射儀技術(shù)(XRD)通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法，X射線衍射儀已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。X射線衍射儀的原理：當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線...

Insitec在線粒度分析儀是干濕一體式激光粒度儀，適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)，尤其對(duì)于在液體中會(huì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)、形狀變化及損失的如中草藥、磁性材料等。Insitec在線粒度分析儀的主要優(yōu)勢(shì)：1、干濕一體化設(shè)計(jì)本款儀器將濕法與干法測(cè)試集成于一體，成功解決了干濕法一體化的各項(xiàng)技術(shù)問(wèn)題，能夠?qū)崿F(xiàn)干濕一鍵切換，使用快捷方便，是顆粒測(cè)試...

進(jìn)口X射線熒光光譜儀分析方法是一個(gè)相對(duì)分析方法，任何制樣過(guò)程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性，所以用于制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品必須經(jīng)過(guò)同樣的制樣處理過(guò)程。X射線熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過(guò)程由于經(jīng)過(guò)多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。進(jìn)口X射線熒光光譜儀測(cè)粉末樣品誤差的來(lái)源：1.粒度效應(yīng)粉末樣品粒度效應(yīng)是指...

特征X射線及其衍射X射線是一種波長(zhǎng)（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線，它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng)，稱(chēng)為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長(zhǎng)為0.154056nm。X'PertPROMRD/XL高分辯衍射儀是半導(dǎo)體材料的標(biāo)準(zhǔn)裝備，用于：材料科學(xué)和納米技術(shù)，半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制，可以適用各種應(yīng)用，尤其適合薄膜分析，例如：搖擺曲線分析和倒易空間Mapping，反射率和薄膜...