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在線粒度儀作為一種粒度分析工具,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)和優(yōu)化顆粒尺寸分布,廣泛應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域。它的高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性使得粒度分析變得更準(zhǔn)確和可靠。它通過(guò)光學(xué)或聲學(xué)原理,將物料中的顆粒進(jìn)行非接觸式檢測(cè),并根據(jù)檢測(cè)結(jié)果生成粒度分布曲線。通常具有高精度、高靈敏度和高穩(wěn)定性的特點(diǎn),可以...
納米顆粒跟蹤分析(NTA)技術(shù)利用光散射和布朗運(yùn)動(dòng)的特性獲得液體懸浮液中的樣本粒度分布。工作原理:激光光束穿過(guò)樣本室并沿光束散射光的路徑穿過(guò)懸浮液中的顆粒,從而能夠通過(guò)裝有攝像頭20倍長(zhǎng)工作距離放大顯微鏡,輕松實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化。攝像頭捕捉布朗運(yùn)動(dòng)下移動(dòng)顆粒的視頻文件。軟件單獨(dú)追蹤多個(gè)顆粒并利用愛(ài)因斯坦方程式計(jì)算顆粒的流體力學(xué)直徑。NanoSight系列儀器提供高分辨率粒徑、濃度和聚合測(cè)量,同時(shí)熒光模式還可針對(duì)標(biāo)識(shí)顆粒提供特定的結(jié)果。該系列產(chǎn)品可利用經(jīng)可視化驗(yàn)證進(jìn)行*確認(rèn)的所有...
X射線衍射儀技術(shù)(XRD)通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,X射線衍射儀已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。X射線衍射儀的原理:當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí),由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí),故由不同原子散射的X射線相互干涉,在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線...
Insitec在線粒度分析儀是干濕一體式激光粒度儀,適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產(chǎn)品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè),尤其對(duì)于在液體中會(huì)發(fā)生化學(xué)反應(yīng)、形狀變化及損失的如中草藥、磁性材料等。Insitec在線粒度分析儀的主要優(yōu)勢(shì):1、干濕一體化設(shè)計(jì)本款儀器將濕法與干法測(cè)試集成于一體,成功解決了干濕法一體化的各項(xiàng)技術(shù)問(wèn)題,能夠?qū)崿F(xiàn)干濕一鍵切換,使用快捷方便,是顆粒測(cè)試...
進(jìn)口X射線熒光光譜儀分析方法是一個(gè)相對(duì)分析方法,任何制樣過(guò)程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性,所以用于制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品必須經(jīng)過(guò)同樣的制樣處理過(guò)程。X射線熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法,激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面,必須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外,樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化,樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過(guò)程由于經(jīng)過(guò)多步驟操作,還必須防止樣品的損失和沾污。進(jìn)口X射線熒光光譜儀測(cè)粉末樣品誤差的來(lái)源:1.粒度效應(yīng)粉末樣品粒度效應(yīng)是指...
特征X射線及其衍射X射線是一種波長(zhǎng)(0.06-20nm)很短的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相機(jī)乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產(chǎn)生X射線,它具有靶中元素相對(duì)應(yīng)的特定波長(zhǎng),稱(chēng)為特征X射線。如銅靶對(duì)應(yīng)的X射線波長(zhǎng)為0.154056nm。X'PertPROMRD/XL高分辯衍射儀是半導(dǎo)體材料的標(biāo)準(zhǔn)裝備,用于:材料科學(xué)和納米技術(shù),半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制,可以適用各種應(yīng)用,尤其適合薄膜分析,例如:搖擺曲線分析和倒易空間Mapping,反射率和薄膜...