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高效安裝X射線衍射儀:分享其前期準(zhǔn)備工作秘訣!
發(fā)布時(shí)間:2025-04-07

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)、織構(gòu)及應(yīng)力,進(jìn)行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是:當(dāng)一束X射線照射到晶體物質(zhì)上時(shí),由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數(shù)量級,故由不同原子散射的X射線相互...

  • 發(fā)布時(shí)間:2022-02-23

    差示掃描量熱儀(DSC)是常用的熱分析技術(shù)之一,它測量材料由于物理化學(xué)變化而發(fā)生的焓變與溫度或時(shí)間的關(guān)系,此方法具有操作快捷,簡便、可靠的特點(diǎn),在高分子材料研究領(lǐng)域發(fā)揮著巨大的作用。差示掃描量熱儀使樣品處于一定的溫度程序(升溫/降溫/恒溫)控制下,觀察樣品端和參比端的熱流功率差隨溫度或時(shí)間的變化過程,以此獲取樣品在溫度程序過程中的吸熱、放熱、比熱變化等相關(guān)熱效應(yīng)信息,計(jì)算熱效應(yīng)的吸放熱量(熱焓)與特征溫度(起始點(diǎn),峰值,終止點(diǎn)和峰面積)等參數(shù)的儀器。廣泛應(yīng)用于塑料、橡膠、纖維...

  • 發(fā)布時(shí)間:2022-01-27

    熔樣機(jī)是x射線熒光光譜儀制樣專用設(shè)備,采用高頻感應(yīng)加熱,效率高、速度快、無需預(yù)熱、即開即用,自動化程度高、操作簡單、制樣速度快、分析精度高、使用成本第,符合目前提倡的節(jié)能、降耗、減排的環(huán)保要求,是未來應(yīng)提倡的一種加熱方式,但由于設(shè)備本身造價(jià)較高,目前在中小企業(yè)應(yīng)用受到限制。熔樣機(jī)是采用玻璃熔融法制備玻璃熔片,用AAS、ICP、X-熒光分析的樣品制備儀器,基本消除了礦物效應(yīng)和基體的增強(qiáng)吸收效應(yīng),測量的精密度高、準(zhǔn)確度好;高溫熔融所采用的加熱方式有:燃?xì)饧訜帷㈦娮栎椛浼訜岷透哳l感...

  • 發(fā)布時(shí)間:2022-01-26

    凝膠滲透色譜(GPC),又稱尺寸排除色譜(SEC),是一種使用特殊的色譜柱、按照尺寸大小分離天然與合成高分子、生物高分子的色譜技術(shù)。GPC色譜的操作原理是利用分子的流體力學(xué)半徑(Rh)或流體力學(xué)體積(Vh)進(jìn)行分離,而非利用分子量的差異。分離過程在GPC色譜柱中進(jìn)行,其柱填充物通常是聚苯乙烯凝膠、玻璃粉或硅膠等多孔物質(zhì)。由于分子大小的差異,較大的分子無法進(jìn)入凝膠的空隙,能更快的從色譜柱中被洗脫。凝膠滲透色譜過程始于單相色譜泵,它推動流動相持續(xù)流過系統(tǒng)管路。系統(tǒng)內(nèi)置脫氣機(jī)則會去...

  • 發(fā)布時(shí)間:2022-01-19

    納米顆粒的粒度及其分布是表征其性能的主要參數(shù),因此對納米顆粒粒度的準(zhǔn)確測量具有重要意義。馬爾文帕納科ZetasizerLab?是一款入門級納米粒度及Zeta電位分析儀,采用經(jīng)典動態(tài)光散射(90°),包含“自適應(yīng)相關(guān)“算法、M3-PALS和恒流Zeta模式。ZetasizerLab還隨附ZSXplorer,這是一款易于使用的分析軟件,提供有關(guān)數(shù)據(jù)質(zhì)量的實(shí)時(shí)反饋,以及如何改進(jìn)結(jié)果的指導(dǎo)。應(yīng)用廣泛,包括:學(xué)術(shù)界Zetasizer是眾多學(xué)術(shù)實(shí)驗(yàn)室的重要分析工具,廣泛用于所有需要分析顆...

  • 發(fā)布時(shí)間:2022-01-18

    納米粒度儀采用動態(tài)光散射原理,其測試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點(diǎn),從而保證了測試結(jié)果的真實(shí)性和有效性。動態(tài)光散射DynamicLightScattering(DLS),也稱光子相關(guān)光譜PhotonCorrelationSpectroscopy(PCS),準(zhǔn)彈性光散射quasi-elasticscattering,測量光強(qiáng)的波動隨時(shí)間的變化。DLS技術(shù)測量粒子粒徑,具有準(zhǔn)確、快速、可重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn),已經(jīng)成為納米科技中比較常規(guī)的一種表征方法。隨著儀器的更新和數(shù)...

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